三座標(biāo)測(cè)量技術(shù)在曲面測(cè)繪中的開(kāi)發(fā)應(yīng)用

掃描測(cè)量功能是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)一項(xiàng)重要功能,掃描測(cè)量方法效率高可以反映出零件表面自由形狀的細(xì)部特征.因此,就該功能開(kāi)發(fā)適合發(fā)動(dòng)機(jī)復(fù)雜型面零件測(cè)量的數(shù)控測(cè)量方案,解決復(fù)雜空間自由曲面(線)精密測(cè)量問(wèn)題進(jìn)行了論述.介紹了如何識(shí)別不同的掃描數(shù)據(jù)格式,對(duì)掃描數(shù)據(jù)根據(jù)生產(chǎn)實(shí)踐需要進(jìn)行旋轉(zhuǎn)、鏡像及平移等處理,并將其轉(zhuǎn)換為CAD曲線或曲面,以便進(jìn)一步進(jìn)行數(shù)據(jù)分析或建立三維模型進(jìn)行加工.

作 者： 馬如軍 李學(xué)煥 Ma Rujun Li Xuehuan   作者單位： 西安航天發(fā)動(dòng)機(jī)廠,陜西,西安,710100  刊 名： 火箭推進(jìn)  英文刊名： JOURNAL OF ROCKET PROPULSION  年，卷(期)： 2008 34(5)  分類(lèi)號(hào)： V260.5  關(guān)鍵詞： 數(shù)控測(cè)量   空間自由型面   掃描數(shù)據(jù)   識(shí)別方法  

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