面粉中滑石粉的X射線檢驗法

采用X-射線衍射分析法檢測面粉中滑石粉等有害物質(zhì),是利用礦物質(zhì)與面粉的分子結構不同的特點,利用X射線衍射法快速確定面粉中含有的礦物質(zhì)結構,直接檢測滑石粉等有害物質(zhì)結構.此方法具有快速、直接、準確的特點,有利于對大批量面粉中滑石粉等有害物質(zhì)的快速檢測.

作 者： 由健 劉成雁 林雪征   作者單位： 遼寧省分析科學研究院,遼寧·沈陽,110015  刊 名： 科協(xié)論壇(下半月)  英文刊名： SCIENCE & TECHNOLOGY ASSOCIATION FORUM  年，卷(期)： 2009 ""(1)  分類號： Q81  關鍵詞： X-射線衍射   面粉   滑石粉  

【面粉中滑石粉的X射線檢驗法】相關文章：

高能X射線的硬化校正04-27

微觀應力和晶粒尺寸的X射線單峰傅立葉分析法04-28

X射線熒光光譜分析法在土壤樣品多元素分析中的應用04-26

質(zhì)子激發(fā)X射線熒光分析及其在海洋科學中的應用04-29

X射線熒光層析成像中消除散射光的方法04-29

名人故事：倫琴發(fā)現(xiàn)X射線的故事10-23

滑石粉對MBR法處理造紙廢水的影響04-28

粉晶X射線衍射在礦物巖石學研究中的應用04-26

河南省X射線診斷現(xiàn)狀調(diào)查04-29

軟X射線多層膜與衰減膜研究04-28