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液晶盒厚度的反射光譜擬合法測量
介紹了一種測量液晶盒厚度的新型光學方法--反射光譜擬合法.理論上,液晶盒的反射光譜呈正弦曲線,且曲線取極值時對應(yīng)入射光波長大小值取決于所用液晶盒的厚度.反之亦然,當?shù)弥壕Э蘸械姆瓷涔庾V時,可以根據(jù)曲線取極值時入射光波長的值來獲得待測液晶盒的厚度.軟件用來搜索與實驗測試數(shù)據(jù)相互吻合的液晶盒厚度.該技術(shù)以白光作為液晶盒的前端光源,且白光入射角為0°.結(jié)果表明,該方法測量范圍5~30 μm,測量重復誤差0.1 μm以下.實驗中,光纖光譜儀用來測試反射光譜,并通過USB接口將其傳輸?shù)接嬎銠C.該方法的優(yōu)點是它可以在0.1 s內(nèi)測試液晶盒表面任意點處的厚度,有較強的使用價值.
作 者: 康桂珍 黃子強 KANG Gui-zhen HUANG Zi-qiang 作者單位: 電子科技大學,光電信息學院,四川,成都,610054 刊 名: 液晶與顯示 ISTIC PKU 英文刊名: CHINESE JOURNAL OF LIQUID CRYSTALS AND DISPLAYS 年,卷(期): 2007 22(4) 分類號: O753.2 關(guān)鍵詞: 液晶盒 反射光譜 光譜擬合 LC cell reflecting spectrum optimal fitting【液晶盒厚度的反射光譜擬合法測量】相關(guān)文章:
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