普通光譜儀用于混色物理實(shí)驗(yàn)

利用光柵光譜儀測量了加法基色和減法基色的透射光譜,并借助2個(gè)不同濾波片的組合可以實(shí)現(xiàn)減法混色的物理過程,同時(shí),通過實(shí)驗(yàn)證明了色光波長會隨著入射角增大而向短波長偏移.

作 者： 陳思 馬世紅 CHEN Si MA Shi-hong   作者單位： 復(fù)旦大學(xué),物理學(xué)系,上海,200433  刊 名： 物理實(shí)驗(yàn)  PKU 英文刊名： PHYSICS EXPERIMENTATION  年，卷(期)： 2009 29(6)  分類號： O436.2  關(guān)鍵詞： 光柵光譜儀   減法混色   基色   波長偏移  

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