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EL6249C及其在MEMS動態(tài)測試中的運用

時間:2023-05-01 11:29:23 電子通信論文 我要投稿
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EL6249C及其在MEMS動態(tài)測試中的運用

摘要:EL6249C是美國Elantec半導(dǎo)體公司推出的四通道激光二極管電流放大器。文中根據(jù)頻閃成像原理,利用EL6249C設(shè)計了一套頻閃驅(qū)動電路,該驅(qū)動電路可驅(qū)動高亮LEC,以產(chǎn)生MEMS動態(tài)測試中所需的頻閃光,為后續(xù)MEMS器件的動態(tài)特性提取和分析做準備。

    關(guān)鍵詞:MEMS EL6249C 動態(tài)測試 頻閃

1 引言

微電子機械系統(tǒng)(MEMS)是在微電子技術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展起來的多學科交叉的新興學科。由于它與傳統(tǒng)機械系統(tǒng)相比,具有可大批量生產(chǎn)、成本低、功耗小、集成化等一系列顯著的優(yōu)點,近十年來得到了迅速的發(fā)展。隨著MEMS從研究階段逐漸步入產(chǎn)業(yè)化階段,其對測試系統(tǒng)的需求也越來越迫切。特別是對動態(tài)特性的測試技術(shù),這是因為MEMS的動態(tài)特性決定了MEMS器件的基本性能;而且MEMS微結(jié)構(gòu)三維微運動情況、材料屬性及機械力學參數(shù)、MEMS可靠性與器件失效模式、失效機理等關(guān)鍵問題均可通過MEMS動態(tài)測試技術(shù)加以解決;同時,通過動態(tài)測試技術(shù),還可以研究一系列相關(guān)的基礎(chǔ)理論問題。因此,MEMS動態(tài)測試技術(shù)近年來得到了國內(nèi)外許多MEMS研究機構(gòu)的高度重視。

    由于許多MEMS器件的運動頻率都比較高,一般在50~500kHz左右,甚至更高。在這種情況下,如果用攝像機在連續(xù)光照下采集高速運動的MEMS器件的運動圖像,由于CCD的曝光時間一般需要30ms,因此,最終得到的圖像是模糊的。這樣不能正確反映MEMS器件在某一個位置的運動情況。為了能夠采集到高速運動的MEMS器件的清晰運動圖像,筆者引用了頻閃成像技術(shù),同時利用這個技術(shù)捕獲到了MEMS器件運動時瞬間的清晰圖像。在通過頻閃成像技術(shù)得到一系列不同時刻不同相位的MEMS器件運動的清晰圖像后,筆者采用機器微視覺技術(shù)(如塊匹配或光流法)來對它們進行分析處理,從而得到MEMS器件的運動特性。頻閃成像技術(shù)的關(guān)鍵問題之一是如何產(chǎn)生頻閃成像所需的頻閃光。選用EL6249C驅(qū)動高亮LED產(chǎn)生所需的頻閃光后,就可以利用頻閃照明原理來采集高速運動的MEMS器件的清晰圖像,從而為后續(xù)MEMS器件動態(tài)特性的提取和分析做充分地準備。下面具體介紹頻閃成像的原理、EL6249C的基本功能及其在MEMS動態(tài)測試中的具體運用。

2 頻閃成像原理

運動MEMS器件的運動頻率都相當高,一般在50~500kHz左右。為了利用機器微視覺技術(shù)對高速運動的MEMS器件的運動狀態(tài)進行描述,可引入頻閃成像技術(shù)。頻閃成像技術(shù)來自頻閃效應(yīng)原理。所謂頻閃效應(yīng),就是物體在人的視野中消失后能留一定時間的視覺印象,即視后效。視后效的持續(xù)時間,在物體一般光度條件下約在1/5~1/20s的范圍內(nèi)。如果來自被觀察物體的視覺刺激信號是一個跟一個的信號,每兩次間隔都少于1/20s,則視覺來不及消失,從而給人以連貫的假象。此時,如果用一閃一閃的光來照明周期運動的MEMS器件,則在MEMS器件的運動頻率與閃光頻率相等時,就相當于閃光燈“凍結(jié)”在某個位置上,這樣,通過多次曝光即可得到MEMS器件在此相位的清晰圖像。圖1所示為頻閃成像原理。假設(shè)要采集高速運動的MEMS器件零相位時的清晰圖像,首先可用函數(shù)發(fā)生器來產(chǎn)生照明所需的窄脈沖信號,此信號的周期與MEMS器件的驅(qū)動信號相同且在零相位保持同步。即每個周期內(nèi)高電平的位置應(yīng)與MEMS驅(qū)動信號的零相位位置一致。只有這樣才能捕捉到MEMS器件零相位時的運動圖像。為了使照明的效果進一步優(yōu)化,照明信號高電平的時間應(yīng)為100ns~1000ns。這樣,利用這一照明信號并通過頻閃驅(qū)動電路來驅(qū)動

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