小麥葉片脅迫狀態(tài)下的高光譜圖像特征分析研究

摘要：作物在遭受各種脅迫下的長勢及健康診斷是精細農(nóng)業(yè)操作的重要環(huán)節(jié).高光譜成像技術(shù)具有圖譜合一的優(yōu)勢,已成為近年來國內(nèi)外研究的熱點.本文以葉片尺度的小麥為研究對象,利用自主研發(fā)的成像光譜儀,采集遭受養(yǎng)分、病蟲害脅迫的小麥葉片高光譜圖像,利用逐像素平均法增強光譜特征,根據(jù)反射率差異進行分析研究.結(jié)果表明,提取的高光譜能夠反映不同葉位葉片的養(yǎng)分差異,還能利用成像圖直觀地進行作物養(yǎng)分脅迫程度判斷;利用成像光譜儀2nm的光譜分辨率和毫米級的空間分辨率,在作物感染病害時,既町定量每個葉片的病斑個數(shù),又能定性地分析感染而積對葉片造成的影響;在作物遭受蟲害時,可對蚜蟲群體甚至單個蚜蟲的光譜信息進行提取,這為定量研究蚜蟲對小麥葉片的危害提供了新的手段.上述結(jié)果充分說明成像高光譜在作物長勢定量定性分析研究中具有獨特的優(yōu)勢. 作者： 張東彥[1]  張競成[1]  朱大洲[2]  王紀華[1]  羅菊花[2]  趙晉陵[2]  黃文江[2] Author： ZHANG Dong-yan[1]  ZHANG Jing-cheng[1]  ZHU Da-zhou[2]  WANG Ji-hua[1]  LUO Ju-hua[2]  ZHAO Jin-ling[2]  HUANG Wen-jiang[2] 作者單位： 國家農(nóng)業(yè)信息化工程技術(shù)研究中心,北京,100097;浙江大學農(nóng)業(yè)遙感與信息技術(shù)應用研究所,浙江杭州,310029國家農(nóng)業(yè)信息化工程技術(shù)研究中心,北京,100097 期 刊： 光譜學與光譜分析   ISTICEISCIPKU Journal： SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS 年，卷(期)： 2011, 31(4) 分類號： S127 關(guān)鍵詞： 高光譜成像    特征分析    脅迫    小麥葉片    機標分類號： S51 S5 機標關(guān)鍵詞： 小麥葉片    養(yǎng)分脅迫    高光譜圖像    圖像特征    分析研究    Stress    Different    Wheat Leaves    Image    作物長勢    成像光譜儀    蚜蟲    光譜成像技術(shù)    空間分辨率    光譜分辨率    定性地分析    自主研發(fā)    遭受蟲害    優(yōu)勢    養(yǎng)分差異 基金項目： 國家自然科學基金項目，國家高新技術(shù)研究發(fā)展計劃(863計劃)項目，農(nóng)業(yè)部行業(yè)科技項目 小麥葉片脅迫狀態(tài)下的高光譜圖像特征分析研究[期刊論文]  光譜學與光譜分析 --2011, 31(4)張東彥  張競成  朱大洲  王紀華  羅菊花  趙晉陵  黃文江作物在遭受各種脅迫下的長勢及健康診斷是精細農(nóng)業(yè)操作的重要環(huán)節(jié).高光譜成像技術(shù)具有圖譜合一的優(yōu)勢,已成為近年來國內(nèi)外研究的熱點.本文以葉片尺度的小麥為研究對象,利用自主研發(fā)的成像光譜儀,采集遭受養(yǎng)分、病蟲害脅迫...

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